郵箱地址
QQ客服
型號:
產(chǎn)品時間:2017-08-26
簡要描述:
可對裸眼不可見的區(qū)域進行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內(nèi)部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察
奧林巴斯BX53M IR紅外觀察顯微鏡
IR物鏡可用于透過硅材料成像,進行半導體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外(IR)物鏡,提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡,配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡,校正由樣品厚度導致的像差。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像。
紅外顯微鏡應(yīng)用
上一篇:材料整體實驗室解決方案
下一篇:奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡
電解液磁性顆粒檢測儀清潔度儀
FAS干法顆粒抽吸提取系統(tǒng)
磷酸鐵鋰清潔度檢測儀
自動磁性異物潔凈度檢測儀
如果您有任何問題,請跟我們聯(lián)系!
聯(lián)系我們
版權(quán)所有 © 2019 英菲洛精密科技(蘇州)有限公司 蘇ICP備16057976號-1 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
地址:蘇州吳中區(qū)太湖智創(chuàng)園J棟(請直接電聯(lián)或轉(zhuǎn)至留言)
咨詢在線客服
服務(wù)熱線
15850205405
掃一掃,關(guān)注我們